VI Systems veröffentlicht Daten zur Zuverlässigkeit seiner 28 Gbit/s VCSEL Laser

VI-Systems veröffentlicht in Zusammenarbeit mit Partnern einen Bericht über einen beschleunigten Alterungstest, der die Zuverlässigkeit ihrer V25 - 850 C VCSEL-Chips für Datenraten von bis zu 28 Gbit/s bestätigt. Die Zuverlässigkeitsprüfung wurde über einen Zeitraum von 6000 Stunden durchgeführt. Die Ergebnisse bestätigen die Anwendbarkeit der VCSEL-Laser in der nächsten Generation von optischen Datenverbindungen.

Berlin, 23.5.2013

Die VI Systems GmbH, ein führender Anbieter von Ultra-High-Speed-Komponenten für die Datenkommunikation, stellt in Zusammenarbeit mit Partnern eine Studie vor zur Zuverlässigkeit ihrer V25 - 850 4 Chips. (4 x 1-Arrays Vertical-Cavity Surface-emitting Laser). Die Studie wird in „Semiconductor Science and Technology“ (Vol 28, Nr. 6) publiziert und berichtet über den störungsfreien Betrieb der Chips von über 6000 Stunden bei 95 0 C Kühlkörpertemperatur, einem Treiberstrom von auf 5 mA und einer Stromdichte von 18 kA/cm2. Über die gesamte Dauer des Tests konnte kein Leistungsabfall nachgewiesen werden.

Der fehlerfreie Betrieb mit 25 Gb/s bei 5mA zeigt sich in einem breiten Temperaturbereich bei leichten Einbussen an der empfangenen Leistung (~ 1dB, 85 0 C im Vergleich zur Raumtemperatur).

Die Abbau-Studie und die damit verbundenen Datenerfassung wurden durch die EZconn a.s. durchgeführt, die zur eGtran Corporation gehört. Weitere Partner sind die Connector Optics LLC, das A.F. Ioffe Institut in St. Petersburg und die Technische Universität Berlin.