VI Systems vollendet Studie zur Zuverlässigkeit von 28G VCSEL-Lasern

Berlin, 27. 5. 2014

VI Systems GmbH, ein führender Anbieter von Ultrahochgeschwindigkeits-Komponenten für die Datenkommunikation, hat Zuverlässigkeitsstudien der V25-850Cxx Chip-Serie für eine Datenübertragung bis 28 Gbit / s pro Kanal abgeschlossen. Der Chip ist mit einer Leistung von 100 Gbit /s durch parallele Datenübertragung von 4 x 25 Gbit / s mit der Nr. V25-850C4 verfügbar,für die nächste Generation von Infiniband EDR Verbindungen mit einer Leistung von bis zu 300 Gbit / s durch parallele Übertragung von 12 x 25,78 Gbit / s verfügbar mit der Nr. V25-85012.

Das Unternehmen bietet auch Muster mit 16 x 25 Gbit / s für die nächste Generation von 400 Gbit / s-Ethernet-Verbindungen an.

Die Zuverlässigkeitsstudie wurde als beschleunigter Alterungstest mit je 500 Stück jedes Chipformats bei einer Temperatur von bis zu 150 Grad C mit drei unterschiedlichen Stromdichtepegeln durchgeführt.

Abschließend wurde bei üblichen Betriebsbedingungen von 45 ° C und 18kA/cm ^ 2 eine praktisch unbegrenzte systematische Lebensdauer festgestellt. Im Dauerbetrieb mit erhöhten Kühlkörpertemperaturen von bis zu 90 ° C (30% Feuchtigkeit, kompakte Umgebung) wurde eine angemessene Nutzungsdauer mit MTTF-Werte von mehr als 35 Jahren abgeleitet.

Ezconn Czech a.s. stellte die Testumgebung und erfasste die Daten.

Die Studie ist auf der Website des Unternehmens einsehbar unter:

www.v-i-systems.com/_data/Reliability_Report_V25-850_VCSEL_short_version.pdf